隨著科技的飛速發(fā)展，光學(xué)檢測(cè)已不能滿足對(duì)材料領(lǐng)域顯微結(jié)構(gòu)觀測(cè)的需求。而傳統(tǒng)大型掃描電鏡價(jià)錢昂貴，使很多有顯微結(jié)構(gòu)觀測(cè)需求的客戶望而生畏，進(jìn)而臺(tái)式掃描電鏡憑著性價(jià)比高、維系低成本、使用方便快捷等長(zhǎng)處逐漸走上舞臺(tái)，逐漸變成材料領(lǐng)域用戶常規(guī)的測(cè)試工具。
  針對(duì)材料顯微結(jié)構(gòu)的觀測(cè)往往需求體現(xiàn)，其更為真實(shí)的形態(tài)結(jié)構(gòu)，很多材料并不是有著導(dǎo)電率，當(dāng)掃描電鏡中的入射電子束與導(dǎo)電率不好的試樣功能時(shí)，電子將在試樣表層發(fā)生不穩(wěn)靜電場(chǎng)，使拍攝的圖像發(fā)現(xiàn)異常差異的白色或黑色地區(qū)，甚至于發(fā)生突變，嚴(yán)重危害觀測(cè)和圖像質(zhì)量，這種情況稱作“放電現(xiàn)象”或“荷電現(xiàn)象”。
  解決荷電有很多種方式，在低電壓下觀測(cè)試樣，使入射電子相當(dāng)于發(fā)生的二次電子和背散射電子的總數(shù)，進(jìn)而完成電荷的穩(wěn)定平衡；亦或是在試樣表層噴鍍連續(xù)導(dǎo)電層，使其表層有著良好導(dǎo)電率都能夠有效避免荷電現(xiàn)象。
  在不允許臺(tái)式掃描電鏡做試樣噴金處理的情況下，能有效解決導(dǎo)電性能很差或絕緣試樣的成像問(wèn)題。再相結(jié)合大試樣臺(tái)，點(diǎn)一下任意感興趣的位置，視野即可快速移動(dòng)到該位置，輕松幫助用戶完成觀測(cè)。