蔡司工業(yè)CT電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)METROTOM 1500多功能工業(yè)CT測(cè)量機(jī)
METROTOM可基于X射線對(duì)工件進(jìn)行高精度無(wú)損檢測(cè)，可進(jìn)行材料內(nèi)部的氣孔，夾雜，疏松，裂紋的定性與定量缺陷分析，制品的壁厚分析，數(shù)模對(duì)比分析，逆向工程領(lǐng)域的應(yīng)用，同時(shí)可在不破壞產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的前提下洞悉被測(cè)件內(nèi)部的細(xì)節(jié)與裝配狀態(tài)，不僅如此，METROTOM為我們的客戶提供了更佳的幾何計(jì)量解決方案，幫助客戶解決了長(zhǎng)期以來(lái)工件內(nèi)部尺寸難以檢測(cè)等問(wèn)題，從而獲取更全面的測(cè)量數(shù)據(jù)，對(duì)于加強(qiáng)產(chǎn)品的品質(zhì)控制與提高企業(yè)經(jīng)濟(jì)效益發(fā)揮了至關(guān)重要的作用。